Design Experiment of the Integrated Circuit Testing System Based on Operational Amplifiers

Table 1. [in Chinese]
View table
View in Article
Table 1. [in Chinese]
I_P/I_N /A V_IO /V R₁/R₂/Ω （I_P×R₁）/（I_N×R₂）/V 相对误差/%
10 n 20 m 100 M 1.000 2
100 n 20 m 10 M 1.000 2
1 μ 20 m 1 M 1.000 2
10 μ 20 m 100 k 1.000 2

Table 2. [in Chinese]
View table
View in Article
Table 2. [in Chinese]
开关位置测试功能
K₂ K₃ K₆ K₇
2 2 1 1 同相输入偏置电流
2 2 2 2 反相输入偏置电流
1 1 1 1 共模电压范围测试1
1 2 1 1 共模电压范围测试2
1 2 1 1 压摆率

Table 3. [in Chinese]

View table

View in Article

Table 3. [in Chinese]

参数	运放A	运放B	器件手册
I_P /nA	0.799	0.807	<±1
I_N /nA	0.198	0.399	<±1
正V_CM′/V	V_S+−0.89	V_S+−0.96	>V_S+−2
负V_CM′/V	V_S−+1.09	V_S−+1.12	<V_S−+2
S_R+ /V·μs⁻¹	0.705	0.758	0.8（典型值）
S_R− /V·μs⁻¹	0.736	0.770	0.8（典型值）

Table 4. [in Chinese]

View table

View in Article

Table 4. [in Chinese]

共性问题	解决思路
器件选型困难	选型案例演示：打开TI、ADI等芯片制造商官网，按照产品类别进行索引和选型
元件封装容易出错	尽可能使用公共的原理符号和封装库，如立创EDA软件提供大量元件库
器件焊接困难	禁止选用BGA、QFN等具有内嵌引脚封装的器件，电阻电容封装≥0603
软硬件联调难以定位故障	通过在线仿真功能单步执行代码，并通过示波器单次触发功能抓取实时波形

Tools

Get Citation

Copy Citation Text

Xuan GOU, Min HUANG, Ke LIU. Design Experiment of the Integrated Circuit Testing System Based on Operational Amplifiers[J]. Experiment Science and Technology, 2025, 23(2): 54

Download Citation

EndNote(RIS)BibTex Plain Text

Set citation alerts for article

Save article for my favorites