AEROSPACE SHANGHAI, Volume. 42, Issue 4, 28(2025)
Research on the Cost-driven System for Quality Assurance of Aerospace Components
Figures & Tables(6)
Fig. 1. Mapping relationship between the NASA component costs and usage risks
Fig. 2. Component selection factor matrix given in EEE Parts Guidelines for Small-Sat Missions
Fig. 3. Quality assurance test process for low-grade non-reinforced devices of Space X
Table 1.
Comparison of the characteristics of the components at different quality grades View tableView in ArticleTable 1.
Comparison of the characteristics of the components at different quality grades 等级 消费级 工业级 车规级 军用级 工作温度范围/℃ 0~+70 -40~+85 -40~+125 -55~+125 应用 手机、PC等数码产品 工业控制 汽车电子 武器装备、航空航天等 测试标准 JEDEC JEDEC AEC-Q100 MIL-STD-883等 工艺处理 防水处理 防水、防潮、防腐、防霉变 处理 增强封装设计和散热 处理 耐冲击、耐高低温、耐霉菌、 抗辐射、抗干扰等 筛选实验 目检、高温贮存、老化筛选等 基本实验 在消费级基础上增加振动测试、温度测试等 进行AEC-Q系列标准的筛选实验，包括温度循环、振动测试、温度测试等 进行GJB系列标准的筛选实验，包括高温储存、低温储存、振动 测试、冲击测试、抗辐照实验等 寿命/年 2~3 5~10 10~15 >15 故障率/% <3 <1 0 0 系统成本 价格低廉但系统维护费用较高 造价稍高但维护费用略低 造价较高，更换维护困难 造价非常高，且更换维护非常困难
Table 2.
Considered factors for the risk classification of NASA flight missions View tableView in ArticleTable 2.
Considered factors for the risk classification of NASA flight missions 飞行任务风险分类考虑因素 优先级（与机构战略计划、国家意义、对机构和战略合作伙伴意义的 相关性） A类 非常高 B类 高 C类 中等 D类 低 初始任务寿命 A类 长，>5年 B类 中等，3~5年 C类 短期，1~3年 D类 简短，<1年 复杂性和挑战性（界面、国际伙伴关系、设备独特性、任务概况、技术、
储备能力、对过程变化的敏感性）
A类 非常高 B类 高 C类 中等 D类 低到中等 生命周期成本 A类 高 B类 中等到高 C类 中等
Table 3.
Screening test methods and conditions of MIL-STD-883-5 View tableView in ArticleTable 3.
Screening test methods and conditions of MIL-STD-883-5 筛选项目 美国MIL-STD-883-5 筛选试验方法与条件 B级 S级 Q级 V级 Y级 1） 晶圆批次验收测试 TM5007 TM5007 2） 非破坏性键合拉力 TM2023 TM2023 3） 内部目检） TM 2010，条件B TM 2010，条件A TM 2010，条件A 4） 温度循环 TM 1010，条件C 至少10次循环 TM 1010，条件C 至少10次循环 TM 1010，条件 至少10次循环 5） 恒定加速度 TM 2001，条件E（最低），仅Y1方向 TM 2001，条件E（最低），仅Y1方向 TM 2001，条件E（最低），仅Y1方向 6） 目检 100% 100% 100% 7） 粒子碰撞噪声检测 TM 2020，每个器械的测试条件A TM 2020，每个器械的测试条件A 8） 标号 100% 100% 100% 9） 老炼前电测试 按照适用的器件规范 按照适用的器件规范 按照适用的器件规范 10） 动态老炼 TM 1015 160 h，最低+125 ℃ TM 1015 160 h，最低+125 ℃ TM 1015 160 h，最低+125 ℃ 11） 中间老炼电测试 按照适用的器件规范 按照适用的器件规范 12） 静态老炼 TM 1015，条件A或C; +125 ℃下至少144 h或+150 ℃下至少72 h TM 1015，条件A或C; +125 ℃下至少144 h或+150 ℃下至少72 h 13） 老炼后电测试 符合被筛选的器件测试规范 符合被筛选的器件测试规范 14） 允许缺陷百分比 计算 5% PDA（所有批次） 5% PDA，25 ℃下功能参数的3% PDA（所有批次） 5% PDA，25 ℃下功能参数的3% PDA（所有批次） 15） 终测 按照适用的器件规范 按照适用的器件规范 按照适用的器件规范 16） 密封测试 TM 1014 TM 1014 17） X射线/C-SAM X射线：TM 2012，2个视图;
C-SAM TM 2030
X射线：TM 2012，2个视图;
C-SAM TM 2030
18） 外部可视检查 TM 2009 TM 2009 TM 2009 19） 质量一致性检验 TM5005，随机抽检 TM5005，随机抽检 TM5005，随机抽检 20） 辐射锁定 TM 1020 TM 1020 TM 1020
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Kunshu WANG, Ranran ZHAO, Rong ZHAO, Bo WANG, Zebin KONG, Minwei ZHU. Research on the Cost-driven System for Quality Assurance of Aerospace Components[J]. AEROSPACE SHANGHAI, 2025, 42(4): 28
Paper Information
Category: Special Paper of Expert
Received: Jun. 5, 2025
Accepted: --
Published Online: Sep. 29, 2025
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