[1] [1] T. R. Boehly, E. Vianello, J. E. Miller, R. S. Craxton, T. J. B. Collins, V. N. Goncharov, I. V. Igumenshchev, D. D. Meyerhofer, D. G. Hicks, P. M. Celliers, and G. W. Collins, Phys. Plasmas 13, 056303 (2006).

[2] [2] T. R. Boehly, D. Munro, P. M. Celliers, R. E. Olson, D. G. Hicks, V. N. Goncharov, G. W. Collins, H. F. Robey, S. X. Hu, J. A. Morozas, T. C. Sangster, O. L. Landen, and D. D. Meyerhofer, Phys. Plasmas 16, 056302 (2009).

[3] [3] H. F. Robey, T. R. Boehly, R. E. Olson, A. Nikroo, P. M. Celliers, O. L. Landen, and D. D. Meyerhofer, Phys. Plasmas 17, 012703 (2010).

[4] [4] L. M. Barker and R. E. Hollenbach, Rev. Sci. Instrum. 36, 1617 (1965).

[5] [5] P. M. Cellier, D. K. Bradley, G. W. Collins, D. G. Hicks, T. R. Boehly, and W. J. Armstrong, Rev. Sci. Instrum. 75, 4916 (2004).

[6] [6] H. Shu, S. Fu, X. Huang, G. Jia, J. Dong, J. Ye, and Y. Gu, Chinese J. Lasers (in Chinese) 37, 176 (2010).

[7] [7] S. Liu, Z. Li, J. Wu, D. Wang, J. Liu, and J. Meng, Chinese J. Lasers (in Chinese) 35, 1235 (2008).

[8] [8] X. Deng, X. Liang, Z. Chen, W. Yu, and R. Ma, Appl. Opt. 25, 377 (1986).

[9] [9] H. Shu, S.-Z. Fu, X.-G. Huang, M.-X. Ma, J. Wu, J.-J. Ye, J.-H. He, and Y. Gu, Eur. Phys. J. D. 44, 367 (2007).