[1] [1] C. Wang, J. Azana, and L. R. Chen, IEEE Photon. Technol. Lett. 16, 1867 (2004).

[2] [2] J. E. McGeehan, M. C. Hauer, A. B. Sahin, and A. E. Willner, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1464 (2003).

[3] [3] M. Ibsen, M. K. Durkin, M. J. Cole, and R. I. Laming, IEEE Photon. Technol. Lett. 10, 842 (1998).

[4] [4] M. Douay, T. Feng, P. Bemage, P. Niay, E. Delevaque, and T. Georges, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 844 (1992).

[5] [5] D. Pureur, M. Douay, P. Bernage, P. Niay, and J. F. Bayon, J. Lightwave Technol. 13, 350 (1995).

[6] [6] W. H. Loh, J. P. de Sandro, G. J. Cowle, B. N. Samson, and A. D. Ellis, Electron. Lett. 33, 594 (1997).

[7] [7] J.-C. Dung and S. Chi, Opt. Commun. 162, 219 (1999).

[8] [8] L. Wang, F. Yan, Y. Li, T. Gong, and S. Jian, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 27, 587 (2007).

[9] [9] P. M. Hill, R. Olshansky, and W. K. Burns, IEEE Photon. Technol. Lett. 4, 500 (1992).

[10] [10] S. Hinz, D. Sandel, R. Noé, and F. Wüst, Electron. Lett. 36, 1402 (2000).

[11] [11] S. G. Evangelides, Jr., L. F. Mollenauer, J. P. Gordon, and N. S. Bergano, IEEE J. Lightwave Technol. 10, 28 (1992).