[1] Y. Ren, Z. Qin, G. Xie, Z. Qiao, T. Hai, P. Yuan, L. Hu. Chin. Opt. Lett., 16, 020020(2018).

[2] E. C. Ji, Y. Yao, Y. J. Huang, S. Lu, Q. T. Lue. Proc. SPIE, 10964, 109643S(2018).

[3] K. Scholle, M. Schäfer, S. Lamrini, M. Wysmolek, M. Steinke, J. Neumann, P. Fuhrberg. Proc. SPIE, 10512, 105120O(2018).

[4] C. Yang, Y. Ju, B. Yao, Z. Zhang, T. Dai, X. Duan. Chin. Opt. Lett., 14, 061403(2016).

[5] T. Sumiyoshi, H. Sekita, T. Arai, S. Sato, M. Ishihara, M. Kikuchi. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., 5, 936(1999).

[6] Y. Fan, B. He, J. Zhou, J. Zheng, H. Liu, Y. Wei, J. Dong, Q. Lou. Opt. Express, 19, 15162(2011).

[7] R. Tumminelli, V. Petit, A. Carter, A. Hemming, N. Simakov, J. Haub. Proc. SPIE, 10512,, 105120M(2018).

[8] M. Meleshkevich, N. Platonov, D. Gapontsev, A. Drozhzhin, V. Sergeev, V. Gapontsev. European Conference on Lasers and Electro-Optics and the International Quantum Electronics Conference, CP2_3(2007).

[9] T. Walbaum, M. Heinzig, T. Schreiber, R. Eberhardt, A. Tünnermann. Opt. Lett., 41, 2632(2016).

[10] T. Ehrenreich, R. Leveille, I. Majid, K. Tankala, G. Rines, P. Moulton. Proc. SPIE, 7580, 758016(2010).

[11] Z. Y. Hu, P. Yan, Q. R. Xiao, Q. Liu, M. L. Gong. Chin. Phys. B, 23, 104206(2014).

[12] A. Carter, B. Samson, J. Ding, G. Frith, K. Tankala. Proc. SPIE, 7914, 79140J(2011).

[13] L. Zhang, S. Cui, C. Liu, J. Zhou, Y. Feng. Opt. Express, 21, 5456(2013).

[14] X. Zhao, Y. Yang, H. Shen, X. Chen, G. Bai, J. Zhang, J. Zhou. High Power Laser Sci. Eng., 5(2017).

[15] C. Ottenhues, T. Theeg, K. Hausmann, M. Wysmolek, H. Sayinc, J. Neumann, D. Kracht. Opt. Lett., 40, 4851(2015).

[16] J. Tian, Q. Xiao, D. Li, Y. Huang, Z. Wang, P. Yan, M. Gong. OSA Continuum, 2, 1138(2019).

[17] Z. Hu, P. Yan, Q. Liu, E. Ji, M. Gong. J. Opt. Soc. Am. B, 31, 3181(2014).

[18] Z. Hu, P. Yan, Q. Liu, E. Ji, Q. R. Xiao, M. Gong. Appl. Phys. B, 118, 101(2015).

[19] E. Ji, Q. Liu, Z. Hu, M. Gong. Chin. Phys. B, 24, 104210(2015).

[20] E. Ji, Y. Shen, M. Nie, X. Fu, Q. Liu. Appl. Phys. B, 123, 129(2017).

[21] B. M. Walsh, P. B. Norman. Appl. Phys. B, 78, 325(2004).

[22] J. De Pelsmaeker, G. J. Graulus, S. Van Vlierberghe, H. Thienpont, D. Van Hemelrijck, P. Dubruel, H. Ottevaere. J. Mater. Process. Technol., 255, 808(2018).