[1] W. Chao, P. Fischer, T. Tyliszczak, S. Rekawa, E. Anderson, P. Naulleau. Opt. Express, 20, 9777(2012).

[2] W. Chao, J. Kim, S. Rekawa, P. Fischer, E. H. Anderson. Opt. Express, 17, 17669(2009).

[3] Y.-T. Chen, T.-N. Lo, Y. S. Chu, J. Yi, C.-J. Liu, J.-Y. Wang, C.-L. Wang, C.-W. Chiu, T.-E. Hua, Y. Hwu. Nanotechnology, 19, 395302(2008).

[4] H. Wu, S. Chen, Y. Chu, R. Conley, N. Bouet, C. Chien, H. Chen, C. Lin, H. Tung, Y. Chen. J. Phys. D Appl. Phys., 45, 242001(2012).

[5] Z. Chen, H. Xie, B. Deng, G. Du, H. Jiang, T. Xiao. Chin. Opt. Lett., 12, 123401(2014).

[6] B. Feng, B. Deng, Y. Ren, Y. Wang, G. Du, H. Tan, Y. Xue, T. Xiao. Chin. Opt. Lett., 14, 093401(2016).

[7] E. Di Fabrizio, F. Romanato, M. Gentili, S. Cabrini, B. Kaulich, J. Susini, R. Barrett. Nature, 401, 895(1999).

[8] J. Kirz. J. Opt. Soc. Am., 64, 301(1974).

[9] Q. Huang, J. Zhu, H. Li, Z. Shen, X. Wang, Z. Wang, Y. Tang. Chin. Opt. Lett., 10, 013103(2012).

[10] A. Holmberg, J. Reinspach, M. Lindblom, E. Chubarova, M. Bertilson, O. von Hofsten, D. Nilsson, M. Selin, D. Larsson, P. Skoglund. the 10th International Conference on X-ray Microscopy, 18(2011).

[11] B. L. Henke, E. M. Gullikson, J. C. Davis. At. Data Nucl. Data Tables, 54, 181(1993).

[12] S.-R. Wu, Y. Hwu, G. Margaritondo. Materials, 5, 1752(2012).

[13] E. Chubarova, D. Nilsson, M. Lindblom, J. Reinspach, J. Birch, U. Vogt, H. M. Hertz, A. Holmberg. Microelectron. Eng., 88, 3123(2011).

[14] T. Koyama, H. Takano, S. Konishi, T. Tsuji, H. Takenaka, S. Ichimaru, T. Ohchi, Y. Kagoshima. Rev. Sci. Instrum., 83, 013705(2012).

[15] M. Mayer, C. Grévent, A. Szeghalmi, M. Knez, M. Weigand, S. Rehbein, G. Schneider, B. Baretzky, G. Schütz. Ultramicroscopy, 111, 1706(2011).

[16] W. Chao, B. D. Harteneck, J. A. Liddle, E. H. Anderson, D. T. Attwood. Nature, 435, 1210(2005).