[1] [1] P. Chen, X. Wu, X. Sun, J. Lin, W. Ji, and K. L. Tan, Phys. Rev. Lett. 82, 2548 (1999).

[2] [2] X. C. Liu, J. H. Si, B. H. Chang, G. Xu, Q. G. Yang, Z. W. Pan, S. S. Xie, and P. X. Ye, Appl. Phys. Lett. 74, 164 (1999).

[3] [3] J. S. Lauret, C. Voisin, G. Cassabois, J. Tignon, C. Delalande, R. Ph, O. Jost, and L. Capes, Appl. Phys. Lett. 85, 3572 (2004).

[4] [4] M. J. O’Connell, S. M. Bachilo, C. B. Huffman, V. C. Moore, M. S. Strano, E. H. Haroz, K. L. Rialon, P. J. Boul, W. H. Noon, C. Kittrell, J. Ma, R. H. Hauge, R. B.Weisman, and R. E. Smalley, Sci. 297, 593 (2002).

[5] [5] R. J. Chen, N. R. Franklin, J. Kong, J. Cao, T. W. Tombler, Y. G. Zhang, and H. J. Dai, Appl. Phys. Lett. 79, 2258 (2001).

[6] [6] M. Freitag, Y. Martin, J. A. Misewich, R. Martel, and P. Avouris, Nano Lett. 3, 1067 (2003).

[7] [7] I. A. Levitsky and W. B. Euler, Appl. Phys. Lett. 83, 1857 (2003).

[8] [8] J. Wei, J. Sun, J. Zhu, K. Wang, Z. Wang, J. Luo, D. Wu, and A. Cao, Small. 2, 988 (2006).

[9] [9] P. Castrucci, F. Tombolini, M. Scarselli, E. Speiser, S. Del Gobbo, W. Richter, M. De Crescenzi, M. Diociaiuti, E. Gatto, and M. Venanzi, Appl. Phys. Lett. 89, 253107 (2006).

[10] [10] U. Coscia, G. Ambrosone, A. Ambrosio, M. Ambrosio, F. Bussolotti, V. Carillo, V. Grossi, P. Maddalena, M. Passacantando, E. Perillo, A. Raulo, and S. Santucci, Solid State Sci. 11, 1806 (2009).

[11] [11] M. Passacantando, F. Bussolotti, V. Grossi, S. Santucci, A. Ambrosio, and A. Raulo, Appl. Phys. Lett. 93, 051911 (2008).

[12] [12] W. Feng, Y. Feng, Z. Wu, Z. Wu, A. Fujii, M. Ozaki, and K. Yoshino, J. Phys. Condens. Mater. 17, 4361 (2005).

[13] [13] J. Zhang, Y. Q. Jiang, P. B. Wang, and H. L. Tian, Microsyst. Technol. 16, 2115 (2010).

[14] [14] P. Stokes, L. W. Liu, J. H. Zou, L. Zhai, Q. Huo, and S. I. Khondaker, Appl. Phys. Lett. 94, 042110 (2009).

[15] [15] M. S. Fuhrer, J. Nugard, L. Shih, M. Forero, Y. G. Yoon, M. S. Mazzoni, H. J. Choi, I. Ihm, S. G. Louie, A. Zettl, and P. L. McEuen, Sci. 288, 494 (2000).

[16] [16] B. C. St-Antoine, D. Me′nard, and R. Martel, Nano Lett. 11, 609 (2011).

[17] [17] J. L. Sun, J. Wei, J. L. Zhu, D. Xu, X. Liu, H. Sun, D. H. Wu, and N. L. Wu, Appl. Phys. Lett. 88, 131107 (2006).

[18] [18] J. L. Sun, J. Xu, J. L. Zhu, and B. L. Li, Appl. Phys. A. 91, 229 (2008).

[19] [19] Z. Y. Zhan, C. Liu, L. X. Zheng, G. Z. Sun, B. S. Li, and Q. Zhang, Phys. Chem. Chem. Phys. 13, 20471 (2011).

[20] [20] R. A. DiLeo, B. J. Landi, and R. P. Raffaelle, J. Appl. Phys. 101, 064307 (2007).

[21] [21] J. Schwan, S. Ulrich, V. Batori, H. Ehrhardt, and S. R. P. Silva, J. Appl. Phys. 80, 440 (1996).

[22] [22] J. L. Sun, W. Zhang, J. L. Zhuand, and B. Yang, Opt. Exp 18, 4066 (2010).

[23] [23] A. Serra, D. Manno, E. Filippo, A. Tepore, M. L. Terranova, S. Orlanducci, and M. Rossi, Nano Lett. 8, 968 (2008).

[24] [24] Y. Wang, K. Kempa, B. Kimball, J. B. Carlson, G. Benham, W. Z. Li, T. Kempa, J. Rybczynski, A. Herczynski, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 85, 2607 (2004).

[25] [25] S. X. Lu and B. Panchapakesan, Nanotechnology. 17, 1843 (2006).

[26] [26] P. M. Ajayan, M. Terrones, A. de la Guardia, V. Huc, N. Grobert, B. Q. Wei, H. Lezec, G. Ramanath, and T. W. Ebbesen, Sci. 296, 705 (2002).

[27] [27] Y. J. Pan and J. Zou, Photoelectronic Technique (in Chinese) (Chongqing University Press, Chongqing, 2000).