High resolution X-ray spherically bent crystal spectrometer for laser-produced plasma diagnostics

doi:10.3788/COL20090701.0092

Chinese Optics Letters, Volume. 7, Issue 1, 0192(2009)

Author Affiliations

show less

References(12)

[1] [1] H. Yoneda, N. Hasegawa, S. Kawana, and K.-I. Ueda, Phys. Rev. E 56, 988 (1997).

[2] [2] S. Xiao, Y. Pan, X. Zhong, X. Xiong, G. Yang, Z. Liu, and Y. Ding, Chin. Opt. Lett. 2, 495 (2004).

[3] [3] J. Weinheimer, I. Ahmad, O. Herzog, H.-J. Kunze, G. Bertschinger, W. Biel, G. Borchert, and M. Bitter, Rev. Sci. Instrum. 72, 2566 (2001).

[4] [4] F. Blasco, C. Stenz, F. Salin, A. Ya. Faenov, A. I. Magunov, T. A. Pikuz, and I. Yu. Skobelev, Rev. Sci. Instrum. 72, 1956 (2001).

[5] [5] D. B. Sinars, D. F. Wenger, K. L. Keller, G. A. Rochau, and J. L. Porter, Rev. Sci. Instrum. 77, 10F327 (2006).

[6] [6] D. B. Sinars, M. E. Cuneo, G. R. Bennett, D. F. Wenger, L. E. Ruggles, M. F. Vargas, J. L. Porter, R. G. Adams, D. W. Johnson, K. L. Keller, P. K. Rambo, D. C. Rovang, H. Seamen, W. W. Simpson, I. C. Smith, and S. C. Speas, Rev. Sci. Instrum. 74, 2202 (2003).

[7] [7] B. M. Song, S. A. Pikuz, T. A. Shelkovenko, K. M. Chandler, M. D. Mitchell, and D. A. Hammer, Rev. Sci. Instrum. 74, 1954 (2003).

[8] [8] T. Missalla, I. Uschmann, E. Forster, G. Jenke, and D. von der Linde, Rev. Sci. Instrum. 70, 1288 (1999).

[9] [9] T. Imazono, M. Ishino, M. Koike, H. Kimura, T. Hirono, and Kazuo Sano, Rev. Sci. Instrum. 76, 023104 (2005).

[10] [10] T. A. Pikuz, A. Ya. Faenov, S. A. Pikuz, V. M. Romanova, and T. A. Shelkovenko, J. X-Ray Sci. Technol. 5, 323 (1995).

[11] [11] P. Monot, T. Auguste, S. Dobosz, P. D’Oliveira, S. Hulin, M. Bougeard, A. Ya. Faenov, T. A. Pikuz, and I. Yu. Skobelev, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 484, 299 (2002).

[12] [12] Y. Wang, G. Yang, J. Yang, Y. Ding, J. Zhang, and J. Li, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 26, 1507 (2006).