[1] [1] G. D. Goodno, C. P. Asman, J. Anderegg, S. Brosnan, E. C. Cheung, D. Hammons, H. Injeyan, H. Komine, W. H. Long, M. McClellan, S. J. McNaught, S. Redmond, R. Simpson, J. Sollee, M. Weber, S. B. Weiss, and M. Wickham, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 13, 460 (2007).

[2] [2] G. D. Goodno, H. Komine, S. J. McNaught, S. B. Weiss, S. Redmond, W. Long, R. Simpson, E. C. Cheung, D. Howland, P. Epp, M. Weber, M. McClellan, J. Sollee, and H. Injeyan, Opt. Lett. 31, 1247 (2006).

[3] [3] T. M. Shay, V. Benham, J. T. Baker, A. D. Sanchez, D. Pilkington, and C. A. Lu, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 13, 480 (2007).

[4] [4] X. Li, X. Dong, H. Xiao, X. Wang, and X. Xu, Chin. Opt. Lett. 9, 101401 (2011).

[5] [5] R. Yang, P. Yang, L. Dong, M. Ao, and B. Xu, Appl. Phys. B 99, 19 (2010).

[6] [6] B. Wang, E. Mies, M. Minden, and A. Sanchez, Opt. Lett. 34, 863 (2009).

[7] [7] M. Fridman, V. Eckhouse, N. Davidson, and A. A. Friesem, Opt. Lett. 32, 790 (2007).

[8] [8] W. Wang, B. He, H. Zhang, Y. Xue, Z. Li, X. Liu, J. Zhou, and Q. Lou, Chin. Opt. Lett. 8, 680 (2010).

[9] [9] J. Morel, A. Woodtli, and R. Dandliker, Opt. Lett. 18, 1520 (1993).

[10] [10] Y. Zheng, X. Wang, L. Deng, F. Shen, and X. Li, Appl. Opt. 50, 2239 (2011).

[11] [11] L. Liu, M. A. Vorontsov, E. Polnau, T. Weyrauch, and L. A. Beresnev, Proc. SPIE 6708, 67080K (2007).

[12] [12] J. Anderegg, S. Brosnan, E. Cheung, P. Epp, D. Hammons, H. Komine, M. Weber, and M. Wickham, Proc. SPIE 6102, 61020U (2007).

[13] [13] S. Esposito, E. Pinna, A. Puglisi, A. Tozzi, and P. Stefanini, Opt. Lett. 30, 2572 (2005).

[14] [14] K. L. Baker, D. Homoelle, E. Utterback, and S. M. Jones, Opt. Express 17, 19551 (2009).

[15] [15] S. C. West, Appl. Opt. 41, 3781 (2002).

[16] [16] G. Chanan, M. Troy, F. Dekens, S. Michaels, J. Nelson, T. Mast, and D. Kirkman, Appl. Opt. 37, 140 (1998).

[17] [17] P. Yang, R. Yang, F. Shen, X. Li, and W. Jiang, Opt. Commun. 282, 1349 (2009).

[18] [18] P. Yang, R. Yang, L. Dong, X. Lei, and B. Xu, Appl. Phys. B 98, 465 (2010).

[19] [19] D. R. Neal, W. J. Alford, and J. K. Gruetzner, Proc. SPIE 2870, 72 (1996).