High Power Laser Science and Engineering, Volume. 12, Issue 2, 02000e15(2024)
Exploring fs-laser irradiation damage subthreshold behavior of dielectric mirrors via electrical measurements
References(48)
[1] F. Lureau, G. Matras, O. Chalus, C. Derycke, T. Morbieu, C. Radier, O. Casagrande, S. Laux, S. Ricaud, G. Rey, A. Pellegrina, C. Richard, L. Boudjemaa, C. Simon-Boisson, A. Baleanu, R. Banici, A. Gradinariu, C. Caldararu, B. D. Boisdeffre, P. Ghenuche, A. Naziru, G. Kolliopoulos, L. Neagu, R. Dabu, I. Dancus, D. Ursescu. High Power Laser Sci. Eng., 8, e43(2020).
[2] C. Radier, O. Chalus, M. Charbonneau, S. Thambirajah, G. Deschamps, S. David, J. Barbe, E. Etter, G. Matras, S. Ricaud, V. Leroux, C. Richard, F. Lureau, A. Baleanu, R. Banici, A. Gradinariu, C. Caldararu, C. Capiteanu, A. Naziru, B. Diaconescu, V. Iancu, R. Dabu, D. Ursescu, I. Dancus, C. Alexandru Ur, K. A. Tanaka, N. V. Zamfir. High Power Laser Sci. Eng., 10, e21(2022).
[3] G. Mourou, S. Mironov, E. Khazanov, A. Sergeev. Eur. Phys. J. Spec. Top., 223, 1181(2014).
[4] P.-G. Bleotu, J. Wheeler, S. Y. Mironov, V. Ginzburg, M. Masruri, A. Naziru, R. Secareanu, D. Ursescu, F. Perez, J. De Sousa, D. Badarau, E. Veuillot, P. Audebert, E. Khazanov, G. Mourou. High Power Laser Sci. Eng., 11, e30(2023).
[5] J. Wheeler, G. P. Bleotu, A. Naziru, R. Fabbri, M. Masruri, R. Secareanu, D. M. Farinella, G. Cojocaru, R. Ungureanu, E. Baynard, J. Demailly, M. Pittman, R. Dabu, I. Dancus, D. Ursescu, D. Ros, T. Tajima, G. Mourou. Photonics, 9, 715(2022).
[6] P.-G. Bleotu, J. Wheeler, D. Papadopoulos, M. Chabanis, J. Prudent, M. Frotin, L. Martin, N. Lebas, A. Freneaux, A. Beluze, F. Mathieu, P. Audebert, D. Ursescu, J. Fuchs, G. Mourou. High Power Laser Sci. Eng., 10, e9(2022).
[7] D. Ashkenasi, M. Lorenz, R. Stoian, A. Rosenfeld. Appl. Surface Sci., 150, 101(1999).
[8] P. Mannion, J. Magee, E. Coyne, G. O’Connor, T. Glynn. Appl. Surface Sci., 233, 275(2004).
[9] A. Melninkaitis, J. Mirauskas, M. Jeskevic, V. Sirutkaitis, B. Mangote, X. Fu, M. Zerrad, L. Gallais, M. Commandré, T. Tolenis, S. Kičas, R. Drazdys. Optical Interference Coatings, FA6(2010).
[10] B. Mangote, L. Gallais, M. Commandré, M. Mende, L. Jensen, H. Ehlers, M. Jupé, D. Ristau, A. Melninkaitis, J. Mirauskas, V. Sirutkaitis, S. Kičas, T. Tolenis, R. Drazdys. Opt. Lett., 37, 1478(2012).
[11] X. Fu, A. Melnikaitis, L. Gallais, S. Kiáčas, R. Drazdys, V. Sirutkaitis, M. Commandré. Opt. Express, 20, 26089(2012).
[12] A. Hanuka, K. P. Wootton, Z. Wu, K. Soong, I. V. Makasyuk, R. J. England, L. Schächter. High Power Laser Sci. Eng., 7, e7(2019).
[13] D. N. Nguyen, L. A. Emmert, D. Patel, C. S. Menoni, W. Rudolph. Appl. Phys. Lett., 97, 191909(2010).
[14] S. Papernov, M. D. Brunsman, J. B. Oliver, B. N. Hoffman, A. A. Kozlov, S. G. Demos, A. Shvydky, F. H. M. Cavalcante, L. Yang, C. S. Menoni, B. Roshanzadeh, S. T. P. Boyd, L. A. Emmert, W. Rudolph. Opt. Express, 26, 17608(2018).
[15] S. Mao, F. Quéré, S. Guizard, X. Mao, R. Russo, G. Petite, P. Martin. Appl. Phys. A, 79, 1695(2004).
[16] Technical Committee: ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems, “ISO 21254-4:2011 Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser-induced damage threshold — Part 4: Inspection, detection and measurement,” ISO ().(2021).
[17] T. Somoskoi, C. Vass, M. Mero, R. Mingesz, Z. Bozoki, K. Osvay. Laser Phys., 25, 056002(2015).
[18] Y. Liu, Y. Brelet, Z. He, L. Yu, S. Mitryukovskiy, A. Houard, B. Forestier, A. Couairon, A. Mysyrowicz. Phys. Rev. Lett., 110, 097601(2013).
[19] B. Rethfeld. Phys. Rev. B, 73, 035101(2006).
[20] R. Udrea, S. A. Irimiciuc, V. Craciun. Materials, 16, 536(2023).
[21] S. A. Irimiciuc, S. Gurlui, G. Bulai, P. Nica, M. Agop, C. Focsa. Appl. Surface Sci., 417, 108(2017).
[22] K. K. Anoop, M. P. Polek, R. Bruzzese, S. Amoruso, S. S. Harilal. J. Appl. Phys., 117, 083108(2015).
[23] S. Fourmaux, J. C. Kieffer. Quantum Electron., 51, 751(2021).
[24] J. Chen, J. G. Lunney, T. Lippert, A. Ojeda-G-P, D. Stender, C. W. Schneider, A. Wokaun. J. Appl. Phys., 116, 073303(2014).
[25] T. Willemsen, T. Willemsen, U. Chaulagain, U. Chaulagain, I. Havlíčková, I. Havlíčková, S. Borneis, S. Borneis, W. Ebert, H. Ehlers, M. Gauch, T. Groß, D. Kramer, T. Laštovička, J. Nejdl, B. Rus, K. Schrader, T. Tolenis, F. Vaněk, P. K. Velpula, S. Weber. Opt. Express, 30, 6129(2022).
[26] G. Velişa, R. F. Andrei, I. Burducea, A. Enciu, D. Iancu, D. A. Mirea, A. Spiridon, M. Straticiuc. Eur. Phys. J. Plus, 136, 1171(2021).
[27] I. Burducea, M. Straticiuc, D. G. Ghiţă, D. V. Moşu, C. I. Călinescu, N. C. Podaru, D. J. W. Mous, I. Ursu, N. V. Zamfir. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B, 359, 12(2015).
[28] G. P. Bleotu, A. Naziru, A. H. Okukura, S. Popa, D. Matei, A. Dumitru, C. Alexe, V. P. Iancu, A.-M. Talposi, V. C. Musat, I. Dancus, L. P. Caratas, B. Boisdeffre, T. Samoskoi, J. Takahisa, J. Wheeler, G. Mourou, D. Ursescu. Proc. SPIE, 12300(2022).
[29] L. Gallais, J.-Y. Natoli. Appl. Opt., 42, 960(2003).
[30] V. Volodin, Y. Cheng, A. Bulgakov, Y. Levy, J. Beránek, S. Nagisetty, M. Zukerstein, A. Popov, N. Bulgakova. Opt. Laser Technol., 161, 109161(2023).
[31] E. G. Gamaly, A. V. Rode, V. T. Tikhonchuk, B. Luther-Davies. Appl. Surface Sci., 699(2002).
[32] N. M. Bulgakova, A. N. Panchenko, V. P. Zhukov, S. I. Kudryashov, A. Pereira, W. Marine, T. Mocek, A. V. Bulgakov. Micromachines, 5, 1344(2014).
[33] L. Volfová, S. Andrei Irimiciuc, S. Chertopalov, P. Hruška, J. Čížek, M. Vondráček, M. Novotný, M. Butterling, M. O. Liedke, A. Wagner, J. Lancok. Appl. Surface Sci., 608, 155128(2023).
[34] S. A. Irimiciuc, S. Chertopalov, J. Bulíř, M. Vondracek, L. Fekete, P. Jiricek, M. Novotný, V. Craciun, J. Lancok. Plasma Processes Polymers, 19, 2100102(2022).
[35] N. Bulgakova, A. Bulgakov. Appl. Phys. A, 73, 199(2001).
[36] J. R. Patterson, J. A. Emig, K. B. Fournier, P. P. Jenkins, K. M. Trautz, S. W. Seiler, J. F. Davis. Rev. Sci. Instrum., 83, 10D725(2012).
[37] A. M. Elsied, N. C. Termini, P. K. Diwakar, A. Hassanein. Sci. Rep., 6, 38256(2016).
[38] X. T. Zu, X. Q. Chen, W. G. Zheng, X. D. Jiang, X. D. Yuan, X. P. Li, X. Xiang. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B, 266, 3195(2008).
[39] L. Yuan, Y. Zhao, J. Shao. Chin. Opt. Lett., 5, S257(2007).
[40] S. Chen, Y. Zhao, Z. Yu, Z. Fang, D. Li, H. He, J. Shao. Appl. Opt., 51, 6188(2012).
[41] P. K. Velpula, D. Kramer, B. Rus. Coatings, 10, 603(2020).
[42] L. Gallais, B. Mangote, M. Commandré, M. Mende, L. Jensen, H. Ehlers, M. Jupé, D. Ristau, A. Melninkaitis, V. Sirutkaitis, S. Kičas, T. Tolenis, R. Drazdys. Proc. SPIE, 8530(2012).
[43] J. Wen, M. Zhu, Y. Chai, T. Liu, J. Shi, W. Du, J. Shao. J. Alloys Compounds, 957, 170352(2023).
[44] S. A. Irimiciuc, S. Chertopalov, V. Craciun, M. Novotný, J. Lancok. Plasma Processes Polymers, 17, 2000136(2020).
[45] S. Jena, R. B. Tokas, S. Tripathi, K. D. Rao, D. V. Udupa, S. Thakur, N. K. Sahoo. J. Alloys Compounds, 771, 373(2019).
[46] S. Venkataiah, S. J. Chandra, U. Chalapathi, C. Ramana, S. Uthanna. Surface Interface Anal., 53, 206(2021).
[47] L. A. Emmert, M. Mero, W. Rudolph. J. Appl. Phys., 108, 043523(2010).
[48] Technical Committee: ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems, “ISO 21254-2:2011 Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser-induced damage threshold — Part 2: Threshold determination,” ISO ().(2021).
Tools
Get Citation
Copy Citation Text
Petrisor Gabriel Bleotu, Radu Udrea, Alice Dumitru, Olivier Uteza, Maria-Diana Mihai, Dan Gh Matei, Daniel Ursescu, Stefan Irimiciuc, Valentin Craciun. Exploring fs-laser irradiation damage subthreshold behavior of dielectric mirrors via electrical measurements[J]. High Power Laser Science and Engineering, 2024, 12(2): 02000e15
Paper Information
Category: Research Articles
Received: Oct. 10, 2023
Accepted: Dec. 7, 2023
Posted: Dec. 8, 2023
Published Online: Apr. 7, 2024
The Author Email: Stefan Irimiciuc (stefan.irimiciuc@inflpr.ro), Valentin Craciun (valentin.craciun@inflpr.ro)
© Copyright 2018-2021 | Chinese Laser Press.
All Rights Reserved 沪ICP备15018463号-20