[1] A. Wennerberg, R. Ohlsson, B.-G. Rosén, B. Andersson. Med. Eng. Phys., 18, 548(1996).

[2] B.-G. Rosén, L. Blunt, T. R. Thomas. Proc. J. Phys.: Conf. Ser., 13, 325(2005).

[3] L. Zhang, T. Sakai, N. Sakuma, T. Ono, K. Nakayama. Appl. Phys. Lett., 75, 3527(1999).

[4] V. Kalinin Sergei, A. Gruverman. Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale(2007).

[5] J. Schmit, P. Hariharan. Opt. Eng., 46, 077007(2007).

[6] K. Verma, B. Han. J. Electron. Packag., 122, 227(2000).

[7] S. Kino Gordon, S. C. Chim Stanley. Appl. Opt., 29, 3775(1990).

[8] S. Lee, L. Li. Opt. Commun., 334, 253(2015).

[9] Q. Hu, J. Wang, Z. Fu, X. Mo, X. Ding, L. Xia, Y. Zhang, Y. Sun. Appl. Microbiol. Biotechnol., 99, 5605(2015).

[10] J. Hong, W. Guan, G. Jin, H. Zhao, X. Jiang, J. Dai. Microbiol. Res., 170, 69(2015).

[11] D. Lellouchi, F. Beaudoin, C. Le Touze, P. Perdou, R. Desplats. Microelectron. Reliab., 42, 1815(2002).

[12] K. Otsuka. IEEE J. Quantum Electron., 15, 655(1979).

[13] R. Kawai, Y. Asakawa, K. Otsuka. IEEE Photon. Technol. Lett., 11, 706(1999).

[14] K. Otsuka. Jpn. J. Appl. Phys., 31, L1546(1992).

[15] S. Sudo, Y. Miyasaka, K. Nemoto, K. Kamikariya, K. Otsuka. Opt. Express, 15, 8135(2007).

[16] S. Seiichi, M. Yoshihiko, O. Kenju. Opt. Express, 14, 1044(2006).

[17] W. Xinjun, L. Duo, Z. Shulian. Opt. Lett., 32, 367(2007).

[18] Y. Gao, Y. Yu, J. Xi, Q. Guo. Appl. Opt., 53, 4256(2014).

[19] E. Lacot, R. Day, F. Stoeckel. Opt. Lett., 24, 744(1999).

[20] Y. Tan, W. Wang, C. Xu, S. Zhang. Sci. Rep., 3, 2971(2013).