[1] D. Gabor. Nature, 161, 777(1948).

[2] T.-C. Poon. Digital Holography and Three-Dimensional Display: Principles and Applications(2006).

[3] M. K. Kim. Digital Holography Microscopy: Principles, Techniques, and Applications(2011).

[4] D. C. Clark, M. K. Kim. Chin. Opt. Lett., 9, 120001(2011).

[5] Y. Wang, D. Wang, J. Zhao, Y. Yang, X. Xiao, H. Cui. Chin. Opt. Lett., 9, 030901(2011).

[6] T. L. Man, Y. H. Wan, D. Y. Wang. Appl. Opt., 54, 1839(2015).

[7] B. Kemper, G. V. Bally. Appl. Opt., 47, A52(2008).

[8] Y. Li, W. Xiao, F. Pan. Appl. Opt., 53, 979(2014).

[9] R. Liu, D. K. Dey, D. Boss. J. Opt. Soc. Am. A, 28, 1204(2011).

[10] A. Anand, B. Javidi. Chin. Opt. Lett., 12, 060012(2014).

[11] W. Osten. Optical Inspection of Microsystems(2006).

[12] E. Stoykova, H. J. Kang, J. Y. Park. Chin. Opt. Lett., 12, 060013(2014).

[13] E. N. Leith, J. Upatnieks. J. Opt. Soc. Am., 52, 1123(1962).

[14] I. Yamaguchi, T. Zhang. Opt. Lett., 22, 1268(1997).

[15] T. Zhang, I. Yamaguchi. Opt. Lett., 23, 1221(1998).

[16] D. Malacara. Optical Shop Testing(2007).

[17] T.-C. Poon, K. Doh, B. Schilling. Opt. Eng., 34, 1338(1995).

[18] P. M. Tsang, J.-P. Liu, T.-C. Poon. Optica, 2, 476(2015).

[19] G. Indebetouw. Chin. Opt. Lett., 7, 1066(2009).

[20] F. Le Clerc, L. Collot. Opt. Lett., 25, 716(2000).

[21] M. Gross, M. Atlan. Opt. Lett., 32, 909(2007).

[22] M. Lesaffre, N. Verrier, M. Gross. Appl. Opt., 52, A81(2013).

[23] J. Novak, P. Novak, A. Mikš. Opt. Commun., 281, 5302(2008).

[24] J. Schmit, K. Creath. Appl. Opt., 35, 5642(1996).

[25] P. de Groot. Proc. SPIE, 3098, 283(1997).

[26]

[27] T. Kakue, R. Yonesaka, T. Tahara, Y. Awatsuji, K. Nishio, S. Ura, T. Kubota, O. Matoba. Opt. Lett., 36, 4131(2011).

[28] Y. Kikuchi, D. Barada, T. Kiire, T. Yatagai. Opt. Lett., 35, 1548(2010).

[29] M. Atlan, M. Gross, E. Absil. Opt. Lett., 32, 1456(2007).

[30] P. de Groot, L. L. Deck. Appl. Opt., 35, 2172(1996).

[31] P. D. Ruiz, J. M. Huntley, Y. J. Shen, C. R. Coggrave, G. H. Kaufmann. Appl. Opt., 40, 2117(2001).