[1] P. Yew, S. C. Lee, S. S. Ng, H. Abu Hassan, W. L. Chen, T. Osipowicz, M. Q. Ren. Thin Solid Films, 603, 334(2016).

[2] G. J. Hawkins, T. Stolberg Rohr. Opt. Express, 23, 16348(2015).

[3] P. Xie, B. Li, S. Zhang, D. Liu. Chin. Opt. Lett., 13, 123101(2015).

[4] S. Bruynooghe. Appl. Opt., 47, C46(2008).

[5] F. Pradal, R. Lhuillier, D. Mouricaud. Proc. SPIE, 9627, 96270A(2015).

[6] T. Wada, H. Makitsubo, M. Mita. Appl. Phys. Express, 3, 102503(2010).

[7] B. Shen, H. Li, H. Xiong, X. Zhang, Y. Tang. Chin. Opt. Lett., 14, 083101(2016).

[8] B. Li, S. Zhang, P. Xie, L. Zhang, D. Liu, F. Zhang. Proc. SPIE, 5640, 587(2005).

[9] B. Fan, F. S. Zhang. J. Shanghai Jiaotong Univ., 31, 69(1997).

[10] B. Li, S. Y. Zhang, P. Xie, F. S. Zhang. J. Infrared Millim. Waves, 24, 23(2005).

[11] Y. Wang, X. Zeng, E. Yang, Y. Lu, D. Zhang, P. Wang. Chin. Opt. Lett., 14, 011601(2016).

[12] J. F. Tang. Modern Optical Thin Film Technology(2006).

[13] Y. L. Li, D. S. Wang, K. P. Li, K. Li. Vac. Cryogenics, 21, 146(2015).

[14] D. Poelman, P. Frederic Smet. J. Phys. D: Appl. Phys., 36, 1850(2003).

[15] K. P. Li, D. S. Wang, C. Li, J. Z. Wang, M. J. Dong, L. Zhang. Infrared Laser Eng., 44, 1048(2015).