Acta Optica Sinica, Volume. 42, Issue 8, 0811002(2022)
Imaging Electron Optics of Electrostatic Focusing Concentric Spherical System Part B: Paraxial Lateral Chromatic Aberration and Geometrical Lateral Spherical Aberration
[1] Seman O И[M]. Theoretical basis of electron optics(1958).
[2] Recknagel A. Theorie des elektrisohen elektronen miktroskops fur selbstrakler[J]. Zeitschrift Angewendt Physik, 117, 689-708(1941).
[3] Apцимович Л A. Электростатические свойства эмисионных систем[J]. Иэв.AHCCCP Cep. Φиз, 8, 313(1944).
[4] Kpyпп Д M. Кружок сферической аберрации в катод ной линзе с шаровой симметрией[J]. Труды ГОИ, 30, 22-29, 159(1963).
[5] Schagen P H, Bruining H, Francken J C. A simple electrostatic electron-optical system with only one voltage[J]. Philips Research Reports, 7, 119-132(1952).
[6] Кельман В М, Сапаргалиев А А, Якушев Е М. Теория катодных линз. II. Электростатичуская линза с вращательной симметрией поля[J]. Журнал технической физики, 43, 52-56(1973).
[7] Zhou L W[M]. Electron optics with wide beam focusing (Monograph)(1993).
Get Citation
Copy Citation Text
Liwei Zhou. Imaging Electron Optics of Electrostatic Focusing Concentric Spherical System Part B: Paraxial Lateral Chromatic Aberration and Geometrical Lateral Spherical Aberration[J]. Acta Optica Sinica, 2022, 42(8): 0811002
Category: Imaging Systems
Received: Oct. 26, 2021
Accepted: Nov. 15, 2021
Published Online: Mar. 30, 2022
The Author Email: Zhou Liwei (zhoulw@vip.sina.com)